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采用高速CMOS和FPGA技术，TL-3025系列产品单轴采样率可达80KHz，相同速度下，相比上一代设备，采样间距缩短8倍，可以检测到更小的凹凸缺陷，降低了产线的漏检率。
凹凸缺陷检测功能可以记录并显示缺陷图片、缺陷大小和位置。您的技术人员不必再倒带数千米的产品来尝试定位缺陷，他们可以直接通过大能的软件系统来分析和诊断任何检测到的缺陷。
测量轴越多，在圆周方向上盲区就越小，可以检测到更小的凹凸缺陷，使得数据采集更全面，测量结果更加真实。
采⽤温度补偿技术，测量结果不受环境温度影响。设备机壳与内部光学组件采用独立设计方案，配合精密的加工和制造技术，提升了设备光学系统抗冲击能力。
| 型号 | TL-3010D | TL-3025D | TL-3025Q | TL-3065D |
| 轴数 | 双轴 | 双轴 | 四轴 | 双轴 |
| 测量范围 | 0.01~10mm | 0.2~25mm | 0.2~25mm | 0.5~65mm |
| 重复精度 | ±0.03μm(1) | ±0.1μm(2) | ±0.1μm(2) | ±0.25μm(3) |
| 测量精度 | ±0.5μm(1) | ±2μm(4) | ±2μm(5) | ±4μm(6) |
| 采样频率 | 46KHz/轴 | 80KHz/轴 | 80KHz/轴 | 46KHz/轴 |
| 外形尺寸(长*宽*厚) | 183*190*56mm | 270*296*60mm | 382.5*384.9*70mm | 392.1*400.4*66mm |
| 缺陷检测-最小可检测缺陷长度 | 0.2mm@560m/min 0.5mm@1400m/min |
0.2mm@960m/min 0.5mm@2400m/min |
0.2mm@560m/min 0.5mm@1400m/min |
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| 缺陷检测-最小可检测缺陷高度 | 0.01mm | 0.02mm | 0.02mm | 0.04mm |
| 缺陷检测-凹凸测量数据 | 缺陷类型、大小、长度、位置 | 缺陷类型、大小、长度、位置 | 缺陷类型、大小、长度、位置 | 缺陷类型、大小、长度、位置 |
| 尺寸测量数据 | 直径、椭圆度、宽度、厚度 | |||
| 应用场景 | 圆线、透明线、扁平线、棒材、管材等 | |||
| 工作电源 | 24VDC ± 5%, Max.75W | |||
| 显示方式 | LED显示 | |||
| 通讯接口 | 标配：蓝牙、RS485(MODBUS RTU) 选配：PROFIBUS、PROFINET、EtherNet/IP等工业总线或工业以太网(7) |
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| 电气接口 | 标配：数字量输出（继电器）、数字量输入、编码器脉冲输入接口 选配：PI反馈控制(7) |
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| 环境适应性-使用环境温度 | 0~50 ℃ | |||
| 环境适应性-使用环境湿度 | 20~85%RH(无结露) | |||
| 环境适应性-使用环境照度 | 白炽灯、荧光灯 3000lx以下 | |||
| 环境适应性-抗振动 | 10~55Hz全振幅1.5mm XYZ方向2小时 | |||
| 环境适应性-抗冲击 | 10G/6ms | |||
| 数据采集分析 | 选配：TDC 3000, DMS1000, C3, DS14ZT | |||
| 超差报警 | 支持 | |||
| 透明模式 | 支持 | |||
| 防水等级 | IP65 | |||
注：
(1)将平均时间设置为0.1秒，在测量区域中心测量直径1mm的圆棒的外径时的±2σ值；
(2)将平均时间设置为0.1秒，在测量区域中心测量直径10mm的圆棒的外径时的±2σ值；
(3)将平均时间设置为0.1秒，在测量区域中心测量直径20mm的圆棒的外径时的±2σ值；
(4)在测量区域2*2mm内，移动直径1mm的圆棒并执行测量时的误差；
(5)在测量区域8*8mm内，移动直径10mm的圆棒并执行测量时的误差；
(6)在测量区域20*20mm内，移动直径20mm的圆棒并执行测量时的误差；
(7)工业以太网通讯模块、PI反馈模块为出厂预装，若未选配该模块则后期不支持加配。
关于超高速尺寸凹凸一体机（TL-3000系列）的常见疑问解答
可以，主要有两种方案：
① 凹凸缺陷检测方案：F 系列、TL-2000 系列、TL-3000 系列均支持凹凸缺陷检测。其中 TL-3000 系列采样频率高达 80 kHz，可满足高速生产场景下的凹凸缺陷检测，并支持凹凸缺陷成像。
② 表面缺陷检测方案：表面缺陷检测系统可从视觉角度检出漆包线粒子等表面异常。与超高速尺寸凹凸一体机（TL-3000系列）搭配使用，构建完整测量解决方案
