CSEAC 2026 无锡半导体展|安优测半导体精密检测方案
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安优测邀您相约 2026 CSEAC,共探半导体精密测量与 3D 检测新高度!


2026 年第十四届半导体设备材料及核心部件展(CSEAC 2026)将于无锡・太湖国际博览中心盛大启幕。 安优测将携 Gocator 3D 智能线共焦传感器、点白光干涉仪、AI 智能扫码枪、超景深显微镜等产品重磅亮相,期待与您深度交流,携手助推制造业产线效能升级。



展位指引

图:安优测展位 B4-1176 引导图
 
 


核心展品



01、超景深显微镜


集观察、拍摄、测量、3D 成像于一体
支持最大 120000×120000 像素超高分辨率图像拼接
内置丰富二维、三维测量功能



02、3D 智能线共焦传感器 
支持透明、高反光、多层、曲面及复杂表面材料检测
集 3D 形貌、3D 多层扫描、2D 强度成像于一体,实现三合一成像
高精度防震运动平台,配备真空吸附平台,保证稳定测量



03、点白光干涉仪
 

重复性可达纳米级,满足先进制程检测要求
支持多层膜厚度及光学常数测量
不影响样品表面,保护高价值晶圆
测量速度快,0.1s 以内就可以测量一个数据,适合产线在线检测与快速抽检



04、AI 智能扫码枪
 

AI 解码、一键示教、即插即用
支持多种工业码制识别
多种光源配置,适应复杂场景
工业级接口丰富,集成方便



现场不仅有专业的技术讲解,还为大家准备了丰富的互动体验环节,让你亲身感受安优测产品的魅力。 期待与您在 CSEAC 2026 相遇,期待与您面对面交流! (展位号 B4-1176)